6. Modélisation D#

6.1. Caractéristiques de la modélisation#

_images/100000000000010900000061672F4057A335CD8B.png _images/100000000000004500000045B25650B5C013E651.png

Section \(r=0,02\text{m}\)

Élément DISCRET 3D, 4 modélisations:

  • modélisation DIS_T : T_L (maille SEG2)

  • modélisation DIS_T : T_N (maille POI)

  • modélisation DIS_TR : TR_L (maille SEG2)

  • modélisation DIS_TR : TR_N (maille POI)

Modélisation DIS_T: T_L (\(\mathrm{AB}\) : maille SEG2)

  • Déplacement nul en \(A\) : \(\mathrm{DX}=\mathrm{DY}=\mathrm{DZ}=0\)

  • Force en \(B\) : \(\mathrm{FY}=-1000N\)

Modélisation DIS_T: T_N (maille POI)

  • Rotations nulles en \(A\) : \(\mathrm{DRX}=\mathrm{DRY}=\mathrm{DRZ}=0\)

  • Force en \(B\) : \(\mathrm{FY}=-1000N\)

Le maillage de cette modélisation est composé d’une maille POI (point \(A\) ) pour l’élément discret (T_N) et d’une maille SEG2 (\(\mathrm{AB}\) ) pour l’élément poutre.

Modélisation DIS_TR: TR_L (\(\mathrm{AB}\) : maille SEG2)

  • Encastrement en \(A\) : \(\mathrm{DX}=\mathrm{DY}=\mathrm{DZ}=\mathrm{DRX}=\mathrm{DRY}=\mathrm{DRZ}=0\)

  • Chargement en \(B\) :

◦ \(\mathrm{FX}=1000N\)

◦ \(\mathrm{FY}=1100N\)

◦ \(\mathrm{FZ}=1200N\)

◦ \(\mathrm{MX}=1300\mathrm{N.m}\)

◦ \(\mathrm{MY}=1400\mathrm{N.m}\)

◦ \(\mathrm{MZ}=1500\mathrm{N.m}\)

Modélisation DIS_TR:TR_N(\(A\) : maille POI)

  • Chargement en \(B\) :

◦ \(\mathrm{FX}=1000N\)

◦ \(\mathrm{FY}=1100N\)

◦ \(\mathrm{FZ}=1200N\)

◦ \(\mathrm{MX}=1300\mathrm{N.m}\)

◦ \(\mathrm{MY}=1400\mathrm{N.m}\)

◦ \(\mathrm{MZ}=1500\mathrm{N.m}\)

Le maillage de cette modélisation est composé d’une maille POI (point \(A\) ) pour l’élément discret (TR_N) et d’une maille SEG2 (\(\mathrm{AB}\) ) pour l’élément poutre.

6.2. Caractéristiques du maillage#

Modélisations DIS_T, DIS_TR (T_L, TR_L)

  • 1 SEG2

Modélisation DIS_T, DIS_TR (T_N, TR_N)

  • 1 SEG2

  • 1 POI

6.3. Grandeurs testées et résultats#

6.3.1. Valeurs testées#

Modélisation DIS_T/T_L:

Identification

Référence

Test

Effort normal – Champ ELGA

-4.0000E+03

ANALYTIQUE

Effort normal – Champ ELNO

-4.0000E+03

ANALYTIQUE

Effort normal – Champ NOEU

-4.0000E+003

ANALYTIQUE

Modélisation DIS_T/T_N:

Identification

Référence

Test

Effort normal – Champ ELGA

-4.0000E+03

ANALYTIQUE

Effort normal – Champ ELNO

-4.0000E+03

ANALYTIQUE

Effort normal – Champ NOEU

-4.0000E+003

ANALYTIQUE

Modélisation DIS_TR/TR_N:

Identification

Référence

Test

Effort normal – Champ ELGA

2.0000E+03

ANALYTIQUE

Effort normal – Champ ELNO

2.0000E+03

ANALYTIQUE

Effort normal – Champ NOEU

2.0000E+03

ANALYTIQUE

Modélisation DIS_TR/TR_N:

Identification

Référence

Test

Effort normal – Champ ELGA

2.0000E+03

ANALYTIQUE

Effort normal – Champ ELNO

2.0000E+03

ANALYTIQUE

Effort normal – Champ NOEU

2.0000E+03

ANALYTIQUE

Pour toutes les modélisations, des tests assurent la non régression du code. Ils portent sur le déplacement suivant \(y\) au nœud \(B\) ainsi que sur ITER_GLOB pour le NUME_ORDRE=1.